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Chroma 3240-Q 無線射頻分類機

簡要描述：Chroma 3240-Q 無線射頻分類機也可依據(jù)測試需求支援各種不同類型封裝的晶片。具有自動送料/分料盤設(shè)計, 3240-Q適用于JEDEC和EIA料盤規(guī)范。另有選配的加強溫控的測試能力, 可提供高達150℃之高溫測試環(huán)境。是一臺創(chuàng)新、整合了射頻和無線隔離室之自動分類機。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2023-12-24
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半導(dǎo)體/IC測試解決方案

IC測試分類機 SoC 測試系統(tǒng)

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品牌	Chroma/致茂	產(chǎn)地類別	進口
應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,道路/軌道/船舶

Chroma 3240-Q 無線射頻分類機也可依據(jù)測試需求支援各種不同類型封裝的晶片。具有自動送料/分料盤設(shè)計, 3240-Q適用于JEDEC和EIA料盤規(guī)范。另有選配的加強溫控的測試能力, 可提供高達150℃之高溫測試環(huán)境。是一臺創(chuàng)新、整合了射頻和無線隔離室之自動分類機。此機臺配置多達八個測試站點和獨立的隔離作平行測試。 3240-Q具有順暢的自動化測試,、精確的Pick & Place技術(shù)、彈性的多測點架構(gòu)、高產(chǎn)能和低Jam Rate等優(yōu)勢，適用于射頻和無線晶片測試。

Chroma 3240-Q 無線射頻分類機的特色：

符合成本效益的RF整合方案
客制RF隔離室和整合Tester安裝
可調(diào)整測試間距至120mm
具有八個平行測試站點
支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到45x45 mm
精確的定位能力
支援JEDEC和EIA料盤

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