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Chroma 3180 八站邏輯測試分類機(jī)有著高可靠性的處理機(jī)制可依據(jù)測試需求支援各種不同類型封裝的晶片，且能與通用生產(chǎn)治具 相容，順暢的自動化技術(shù)滿足高產(chǎn)能和低Jam Rate的量產(chǎn)要求。此外，可調(diào)式的壓測力和位置校正以及各種感應(yīng)裝置可降低待測物發(fā)生突如其來的損壞，和幫助延長socket的使用期，同時(shí)保持或提升產(chǎn) 能的良率。

Chroma 3160C 三溫四站終端測試分類機(jī)是一臺可提供大量且多個(gè)IC測試的分類機(jī)。該設(shè)備可提供多種封裝方試的IC測試，且支持1/2/4 sites的測試需求。另外，由于可靠的機(jī)構(gòu)及功能設(shè)計(jì)，也讓該設(shè)備能提供更高的產(chǎn)出及降低設(shè)備當(dāng)機(jī)率，3160-C能更有效提升生產(chǎn)力并縮短更換kit部件的時(shí)間，且主動式溫控系統(tǒng) （ATC）更可提供待測物-55°C to 150°C的測試環(huán)境。

Chroma 3160 終端測試分類機(jī)是一系列適合量產(chǎn)、高產(chǎn)出、多平行測試站點(diǎn)的高速IC測試分類機(jī)。此系列分類機(jī)運(yùn)用Pick & Place技術(shù)，能夠配合多種封裝類型并按照測試結(jié)果將它們排序分類予分料盤中。其高效率的模組化設(shè)計(jì)與精準(zhǔn)的機(jī)構(gòu)傳動結(jié)構(gòu)可確保在高速運(yùn)作下，機(jī)臺量測之重復(fù)性，并有助于增加機(jī)臺使用之穩(wěn)定性與維護(hù)之便利性。此外，其簡潔的機(jī)臺設(shè)計(jì)更可節(jié)省機(jī)臺于測試廠之占地面積，幫助客戶大幅降低

Chroma 3112 晶片測試分類機(jī)其高效率的模組化設(shè)計(jì)與精準(zhǔn)的機(jī)構(gòu)傳動 結(jié)構(gòu)可確保在高速運(yùn)作下減少Jam Rate的量產(chǎn)要 求，多重檢查功能裝置可降低待測物發(fā)生異常的 損壞。

Chroma 3111 桌上型單站測試分類機(jī)具備遠(yuǎn)端功能可于任何地點(diǎn) 透過網(wǎng)路連接方式進(jìn)行控制，3111可用軟體設(shè) 定JEDEC料盤的分配以及進(jìn)行工程測試，在60公 分平方的空間里發(fā)揮大的效用以節(jié)省時(shí)間和成 本，簡易操作的系統(tǒng)介面（Windows™）提供一各 快速且容易的設(shè)定方式，可簡化流程并提高效率。

Chroma 3110-FT 三溫測試分類機(jī) 三溫 測試分類機(jī)同時(shí)包含預(yù)溫區(qū)，可改善測試時(shí)間及產(chǎn)出;配有2個(gè)自動分料盤及2個(gè)手動分料盤，在僅1.4平方米的空間發(fā)揮的IC分料能力以節(jié)省成本與時(shí)間。

Chroma 3110 雙用單站測試分類機(jī) 3110 不 但適用于系統(tǒng)功能檢測，也同時(shí)具備終端電性測 試的能力?？删C合各元件的整體效能并執(zhí)行測試 系統(tǒng)上的所有測試程式，旨在提供一個(gè)全能的解 決方案。

Chroma HDAVO 高性能混和訊號解決方案 具有任意波形發(fā)生器（awg）和 digi zer （dgt）功能。 該模塊的儀器板上有8個(gè) awg 和8個(gè)數(shù)字化器，可以分配到3680 soc 系統(tǒng)中的任何通用插槽。 大120mhz 的儀器帶寬和密度，可以滿足各種設(shè)備類型的性能要求。