光電元器件的頻域和時(shí)域參數(shù)測(cè)試解決方案
羅德與施瓦茨在光電元器件領(lǐng)域長(zhǎng)期探索及積累,推出的頻域參數(shù)測(cè)試方案和時(shí)域參數(shù)測(cè)試方案,能夠幫助用戶快速可靠地測(cè)量這些光電元器件的頻域和時(shí)域參數(shù),助力用戶實(shí)現(xiàn)高效率高質(zhì)量的研發(fā)和生產(chǎn)。一、頻域參數(shù)測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)景1、E/E器件測(cè)量:僅使用矢量網(wǎng)絡(luò)...